日本电子株式会社：推出新型肖特基场发射(FE)扫描电子显微镜JSM-F100

—全新级其余智能分析场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)，兼具高分辨率和强大年夜的可操作性—

东京--(美国贸易资讯)--日本电子股份有限公司(JEOL Ltd.) (TOKYO:6951) (www.jeol.com)（总裁兼首席运营官：大年夜井泉）宣布，将于2019年8月推出新型肖特基(Schottky)场发射扫描电子显微镜JSM-F100。

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背景

扫描电子显微镜(SEM)应用于不合的范畴：纳米技巧、金属、半导体、陶瓷、医学和生物学等。跟着应用范围的扩大年夜，SEM用户须要快速、高质量的数据采集及简单的构成信息确认和无缝操作。

JSM-F100搭载我们备受推许的浸没式(In-lens)肖特基Plus场发射电子枪和"Neo Engine"（电子光学控制体系），以及全新的GUI "SEM Center"和立异的“及时图像视觉加强器-人工智能(LIVE-AI)滤镜”，实现了高空间分辨率成像和可操作性的最优组合。此外，标配的JEOL能量色散型X射线光谱仪(EDS)完全整合于"SEM Center"内，可实现从图像到元素分析成果的无缝采集。JSM-F100供给卓越的工作效力，赶过我们之前的JSM-7000系列50%或以上，实现了临盆量的明显进步。

特点

1. 浸没式肖特基Plus场发射电子枪
   电子枪与低像差聚光透镜的进一步整合带来更高的亮度。低加快电压下具有足够的探头电流，支撑从高分辨率成像到高速元素映射的各类功能。
2. 混淆式透镜(HL)
   混淆式透镜(HL)将静电场镜和磁场透镜相结合，支撑各类样品的高空间分辨率成像和分析。
3. Neo Engine（新型电子光学引擎）
   Neo Engine是一款先辈的电子光学控制体系，可明显进步主动化功能的精确度和可操作性。
4. "SEM Center"新功能
   全新GUI "SEM Center"周全整合SEM成像和EDS分析，供给借助FE-SEM实现的下一代可操作性和高分辨率图像。
5. "Zeromag"新功能
   整合的"Zeromag"可实现从光学成像到SEM成像的无缝过渡，让定位目标样品区域变得十分轻松。
6. 全新LIVE-AI滤镜*
   *选配

目标年销量

60台/年

日本电子股份有限公司
大年夜井泉，总裁兼首席运营官
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）

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科学与测量仪器发卖部
经由过程应用人工智能(AI)功能，整合的LIVE-AI滤镜可以供给更高质量的及时图像。与图像融合处理不合，这款新的滤镜可以或许显示无缝移动的及时图像，无残留图像，对于快速搜刮不雅察区域、对焦和消像散器调剂十分有效。
Kazunori Kitazumi
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JSM-F100 (Photo: Business Wire)